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        Park NX15原子力顯微鏡

        簡(jiǎn)要描述:Park NX15原子力顯微鏡不僅非常適合共享實(shí)驗(yàn)室里的研究人員處理各種樣品、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn),也同樣適合故障分析工程師處理晶圓的系統(tǒng)性工作。

        • 更新時(shí)間:2025-03-14
        • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
        • 訪  問  量: 2336

        詳細(xì)介紹

        Park NX15原子力顯微鏡不僅非常適合共享實(shí)驗(yàn)室里的研究人員處理各種樣品、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn),也同樣適合故障分析工程師處理晶圓的系統(tǒng)性工作。

        便捷的樣品測(cè)量(包含多樣品掃描)

        一次可對(duì)多個(gè)樣品自動(dòng)成像

        設(shè)計(jì)的多樣本卡盤,一次至多可裝載9個(gè)單獨(dú)樣品(可選)

        全電動(dòng)XY樣品臺(tái)行程可達(dá) 150 mm x 150 mm

        通過消除掃描器串?dāng)_進(jìn)行精準(zhǔn)的XY掃描

        獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器

        正交XY掃描

        無需軟件處理即可保留真實(shí)可信的樣品表面形貌信息

        真正非接觸模式實(shí)現(xiàn)探針使用壽命、成像分辨率和樣品的有效保護(hù)

        快速的Z伺服速度,實(shí)現(xiàn)真正的非接觸模式

        針尖磨損微小化,可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間的高質(zhì)量和高分辨率成像

        多種模式和選項(xiàng)

        全面性的測(cè)量模式和表征方法

        可實(shí)現(xiàn)可選配件和升級(jí)擴(kuò)展功能

        用于故障分析(FA)的精密電學(xué)測(cè)量

        Park NX15原子力顯微鏡 參數(shù)

        掃描器

        Z掃描器

        柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器

        Z掃描范圍:15μm(30 μm可選)

        XY掃描器

        閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器

        掃描范圍:100μmx 100μm

        光學(xué)

        帶視覺相機(jī)的同軸光學(xué)系統(tǒng)

        物鏡:10x放大

        視場(chǎng):

        480 μm X 360 μm(默認(rèn) 120 萬像素視覺相機(jī))

        840 μm X 630 μm( 默認(rèn) 500 萬像素視覺相機(jī))

        電路系統(tǒng)

        信號(hào)處理

        ADC: 用于 X,Y和Z 掃描器位置傳感器的 24 位 ADC

        DAC: 用于 X,Y和Z 掃描器定位的 20 位 DAC

        樣品臺(tái)

        Z位移臺(tái)行程范圍:25.5 mm

        XY位移臺(tái)行程范圍:150 mm X 150mm

        樣品大?。?/span>可滿足150 mm wafer 樣品




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